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场发射扫描电子显微镜(SEM)

信息来源: 发布日期:2025-11-27 访问量:


联系人:林红娇

联系电话18629437919

存放地点:力学与交通运载工程学院楼104


技术指标

1. 加速电压: 0.02 kV ~ 30 kV

2. 放大倍数: 12-2,000,000x

3. 二次电子分辨率:在15kV不低于0.7 nm,在1kV不低于1.2nm。


购置时间:2018年7月30日


主要功能及特色:场发射扫描电镜具有超高分辨率、较高的放大倍数,景深长,视野大,成像立体感好。能做各种固体样品表面相貌的二次电子成像、背散射电子成像及能谱分析。配备EDS, BSD等装置,可以同时进行显微组织形的观察及成分和晶体微观结构的分析。